Janusz Rajski获得终身成就奖

目的驱动;通过协作实现。

Janusz Rajski获得了西门子终身成就奖,以表彰他在集成电路测试方面的工作。Rajski开发了嵌入式确定性测试(EDT),这有助于降低测试成本,同时提高质量,连同60多个由109项美国专利保护的发明注册。这个奖项不仅对拉吉斯基的改革发明给予了巨大的认可,但他的领导力和指导原则也允许来自不同行业的一大批人将他的创新带到市场中去。

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集成电路(IC)是计算机中电子学的基本组成部分,飞机,汽车,医疗设备,智能手机和世界依赖的数千种其他设备。为了确保这些设备按预期工作,集成电路在制造后经过彻底测试,有时在整个产品的生命周期中。电路是自测试的,例如,每次你打开车子。

20世纪90年代,随着集成电路设计规模的扩大,测试所有这些电路的成本和时间开始变得令人望而却步。正当局势接近危机阶段时,Rajski开发了一种压缩生成的测试数据的技术,转移并应用于集成电路,这样可以减少IC测试的时间和成本。该产品在2000年上市,现在以TessendTestKompress的名字销售。

RajskiMentor's Tessend测试组工程副总裁,以EDT的成功为基础,导致诸如最近晶体管级测试之类的技术,称为细胞感知ATPG,半导体公司正在迅速采用集成电路,用于汽车等零缺陷应用。

Janusz分享了他的创新思想:

“秘诀永远是球队。我们为ATPG召集了本行业最优秀的人才团队,压缩,存储器和逻辑BIST,模拟试验,诊断,并产生学习方面。我们的产品不仅反映了这一点,还有我们的出版物。Mentor Tessend团队总是出现在诸如ITC或其他测试和诊断研讨会的顶级会议上。

创新的文化总是在团队内部。以非常深刻的方式,我们有进行创新研究,然后将其转化为产品的记录。我们的团队成员共享这种创新文化。创新文化给了我们面对新挑战的能力。此外,我们必须关注客户的实际问题。即使问题没有已知的解决方案,我们有信心解决问题,并创造价值,为我们的客户因为团队。

20年前,半导体行业表示,测试成本将扼杀它们的盈利能力。英特尔首席技术官预测,15年后,测试的成本将与制造成本相同。我们队是第一个看到它的,因为能力和我们的专注。因此,我们介绍了TestKomp.,首次商用嵌入式压缩技术,解决了集成电路行业测试成本问题。

再举一个例子,当过渡到一个新的技术节点时,IC制造的质量并不总是那么好,手动调试产量问题需要很长时间。我们致力于通过开发诊断和产量辅助工具来解决这个问题。当你发现问题并集中注意力时,有自信的团队,你可以为你的客户创造价值。

我们做我们自己的研究,在许多情况下,我们做行业领先的研究。下一步是与半导体公司合作,验证我们的解决方案。因为Mentor不拥有硅,我们与20多家拥有1亿多模具的公司合作进行细胞意识测试,以确保解决方案的质量改进。

TestKompress是Mentor整个历史中授予Stephen Swerling创新奖的三个产品之一,并帮助Mentor Graphics在面向测试的设计中获得第一的位置。创新不仅会影响模式,还有商业和市场份额。”“

邮政作者

贴于12月4日,2018,通过

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