Tessent快速扫描

Tessent®快速扫描™简化了生成高覆盖率紧凑型测试集的过程。它能够应用于任何类型的设计,使其成为最通用的ATPG解决方案。全面的速度测试是保证高质量测试的关键。Tessent Fastscan的速度测试包括转换,多重检测转换,注意时间,关键路径。

优点和特点

  • 广泛的故障模型支持,包括卡住,国际设计公司过渡,路径延迟,还有桥。
  • 片内PLL支持精确的速度测试。
  • 确保全扫描和结构化部分扫描设计的最高性能ATPG。
  • 使用分布式ATPG减少运行时间,不影响覆盖率或模式计数。
  • 最大限度地减少XS的影响,并提供更高的覆盖率和虚假和多周期支持。
  • 使用全面的设计规则检查尽早识别可测试性问题。
  • 通过自动模拟不匹配调试减少测试验证时间。

Tessent FastScan宏测试选项

自动测试小型嵌入式存储器和核心与扫描。

获奖技术

最佳测试
测试与测量世界,1993年

测试中的最佳荣誉奖
测试与测量世界,2004年

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