Tessent扫描

Tessent®scan™将扫描测试结构插入到网络列表中,提供完全可以进行扫描测试和模式压缩的设计。Tessent扫描为您的设计生成并添加最有效的扫描架构,通过自动测试模式生成(ATPG)确保高质量测试。它执行扫描触发器替换和缝合,分析电路是否存在可能的测试限制,测试相关设计规则检查(DRC)吗?并自动更正错误。

特点和优点

  • 在任何工具环境中工作以提高测试质量
  • 在设计层次结构的所有级别提供智能扫描插入和连接
  • 支持MUX DFF,定时扫描,LSSD,混合的设计风格
  • 在设计周期的早期执行广泛的设计规则检查以识别可测试性故障点
  • 自动更正许多常见的测试性问题
  • 支持基于布局的扫描排序以优化链布局。
  • 插入符合IEEE1500标准的测试结构,以支持基于块的SOC设计测试策略。

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