泰森特·塞尔斯特

Tessent®最高级提供完整的,参数化的多GB/s服务器的嵌入式测试。它测量波形,许多类型的抖动,以及各种抖动容限参数,均在200 ms以内,包括通过IEEE1149.1抽头接口对测试限值进行测试设置和芯片内比较。

Tessent-Serdest使用无限制时间分辨率分析(Ultra)专利技术,仅连接到Serdes并行端口,并在运行速度超过10 GB/s的客户硅上得到验证。一个10k门超模块可以测试任意数量的SERDES车道,一个抽头(或IEEE1500 WTAP)可以连接到任何数量的超模块。

特点和优点

  • 亚皮秒精度的抖动测量:柱状图或rms,高频抖动与黄金PLL切断,占空比畸变,转变密度依赖延迟。
  • 波形测量:转换率或20-80%的转换时间和振幅。
  • 车道性能测量:所有车道同时出现位误差,同时在多个车道上的误码率。
  • 抖动容限参数测量:平均采样瞬间,接收机系统采样误差,恢复的时钟抖动。
  • 设计和测试自动化:RTL插入和测试台生成,特性和生产试验,重复性分析

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Tessent-Serdest包括Tessent-Siliconinsight混合信号解决方案。有了这种互动能力,任何支持的SERDES嵌入式测试都可以立即在PC或测试仪上运行。泰森特硅视力

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