安全应用的高质量测试解决方案

白皮书

安全应用程序(如智能卡)和国防工业中使用的应用程序的设计需要安全性,以确保外部代理无法访问敏感数据。相反地,几十年来,扫描链一直被用于改善自动测试设备(ATE)内部逻辑的访问,以便能够高效、快速地测试设备。传统的设计人员使用逻辑BIST进行安全应用。现在有其他的选项可以使用嵌入式确定性测试(EDT)来实现安全应用程序。

在本文中,we will explore the techniques currently in use for testing devices designed for secure application and review the benefits and challenges of each available solution.

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